可靠性测试&可程式蓄冷热冲击试验箱
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可靠性测试&可程式蓄冷热冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试材料结构在瞬间下经极高温及极低温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。
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可靠性测试&可程式蓄冷热冲击试验箱
设备介绍：
| 可靠性测试&可程式蓄冷热冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试材料结构在瞬间下经极高温及极低温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。 |
规格型号：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
内箱尺寸（宽*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
试验温度范围：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN
温度波动度：±2.0℃
温度转换时间：10S
温度稳定时间：5MIN，常温～最低温度5MIN，常温～最高温度5MIN
内箱材质：SUS304优质不锈钢
外箱材质：SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理
可靠性测试&可程式蓄冷热冲击试验箱:
（更多联系爱佩陈小姐18033338362）三箱设备区分为：低温区、测高温区、试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
进口采用触控式图控操作界面，操作筒易。
冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。
系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。
冷却采复叠式二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。
可以试验冲击常温执行满足标准及试验方法: GJB150.5 温度冲击试验;GJB360.7温度冲击试验;GB/2423.22 温度冲击试验。
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