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电路板冷热冲击箱
电路板冷热冲击箱是一种用于测试电子产品、线路板、电路板等在极端温度条件下的性能和稳定性的设备。它通过模拟实际使用环境中可能遇到的温度变化,将样品置于高温和低温的环境中交替进行冷热冲击测试,以评估被测试物料的耐热性、耐寒性、热稳定性等。
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两箱冷热冲击试验箱
两箱冷热冲击试验箱,也称为双箱式冷热冲击试验机,是一种用于模拟产品在极端温度条件下快速转换的环境测试设备。这种设备主要由两个独立的箱体组成:一个高温箱和一个低温箱,以及一个能够快速转移样品的转移室(或称为测试区、中间室)。
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超快速冷热冲击试验箱
超快速冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
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超快速冷热冲击试验机
超快速冷热冲击试验机在超快速(瞬间)下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式,区别在于试验方式和内部结构不同,产品符合标准为:GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。
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组合导航冷热冲击温箱
组合导航冷热冲击温箱:组合导航是由监视器和计算机进行控制的导航系统等,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。
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三箱式高低温冷热冲击检测箱
三箱式高低温冷热冲击检测箱主要用于对光电、LED、电器、电子材料、各种元器件、工业产品零部件或成品、金属材料等产品在模拟高温冲击、低温冲击或高低温瞬间冲击变化的条件下是否适应性试验,对工业产品的物理以及其它相关性能进行测试。主要对定型产品进行可靠性鉴定或验收,在研制阶段用以暴露试制工业产品各方面的缺陷,评价工业产品其可靠性达到预定指标的情况;暴露和分析产品在不同温度环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;生产阶段为监控生产过程提供信息;为改进工业产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用好产品提供重要的依据。
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零部件冷热冲击试验箱
零部件冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害,
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