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半导体步入室恒温恒湿试验设备

  • 半导体步入室恒温恒湿试验设备外框架构采用双面彩钢保温库板组合而成,大小尺寸可根据客户要求订制,根据不同的要求来进行配置。步入式试验箱主要由箱体、控制系统、加热系统、制冷系统风循环系统、时间控制系统、测试负载等组成。通过高低温老化测试,可检查出不良品或不良件,为顾客迅速找出问题并解决问题提供了有效的手段,充分提高了顾客生产效率和产品品质。
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    半导体步入室恒温恒湿试验设备



    半导体步入室恒温恒湿试验设备温度范围:
    -40~120℃
    是客户指定的设备温度范围要求,尺寸根据顾客给的内箱尺寸,大型的就做成人可以步入进去的,所以叫高低温步入式试验箱。小型的则做成箱式的就叫高低温试验箱。湿度范围就做成客户指定的-40℃~120℃,中间任意一个温度都可以恒定或者交变做试验。当然如果此温度范围满足不了的一些顾客还可以定做更大的温度范围如-70℃~150℃或者更小的温度范围如-20℃~85℃等要求均可非标定制。

    适用范围:

    高低温步入式试验箱、温度范围:-40~120℃是常用于通讯、光电、LED、电子等产品(如:光电产品、机算机整机或零配件、显示器、触摸屏、终端机、车用电子产品、主机板、电源供应器、监视器、交换式充电器、手机、电脑、照相机、电话机等)仿真出一种高温、低温、高低温交变、恒定、循环等恶劣温度环境测试的设备,是提高产品可靠性、稳定性的重试验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要试验环节,高低温步入式试验箱、温度范围:-40~120℃广泛生产企业的实验室、国家计量院、研究所、高校实验室、第三方检测机构等领域。

    设备结构

    半导体步入室恒温恒湿试验设备外框架构采用双面彩钢保温库板组合而成,大小尺寸可根据客户要求订制,根据不同的要求来进行配置。步入式试验箱主要由箱体、控制系统、加热系统、制冷系统风循环系统、时间控制系统、测试负载等组成。通过高低温老化测试,可检查出不良品或不良件,为顾客迅速找出问题并解决问题提供了有效的手段,充分提高了顾客生产效率和产品品质。

    步入式温控箱|步入式温控试验室常见故障排除
    1.在高温控制试验中,如温度变化达不到试验温度值时,可以检查电器系统,逐一排除故障。如温度升得很慢,就要查看风循环系统,看一下风循环的调节挡板是否开启正常,反之,就检查风循环的电机运转是否正常。如温度过冲厉害那么就需要整定PID 的设置参数。如果温度直接上升,过温保护,那么,控制器出故障,须更换控制仪表。
    2.低温控制达不到试验的指标,那你就要观察温度的变化,是温度降的很慢,还是温度到一定值后温度有回升的趋势,前者就要检查一下,做低温试验前是否将工作室烘干,使工作室保持干燥后再将试验样品放入工作室内再做试验,工作室内的试验样品是否放置的过多,使工作室内的风不能充分循环,在排除上述原因后,就要考虑是否是制冷系统中的故障了,这样就要请厂家的专业人员进行检修。后者的现象是设备的使用环境不好所致,设备放置的环境温度,放置的位置(箱体后与墙的距离)要满足要求(在设备操作使用说明中都有规定)。
    3.步入式温控箱|步入式温控试验室在试验运行过程中突然出现故障时,控制仪表上出现对应的故障显示提示并有声讯报警提示。操作人员可以对照设备的操作使用中的故障排除一章中快速检查出属于哪一类故障,即可请专业人员快速排除故障,以确保试验的正常进行。

     

     

     

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